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掃瞄式電子顯微鏡(SEM) | EDS微區元素能量分析儀 |
一、掃瞄式電子顯微鏡(SEM)規格 | ||
TOPCON SM350 |
*本 體: | 可變真空掃瞄式電子顯微鏡。(真空值:1~270Pa可調整) |
*偵 測 器: | 二次電子偵測器。 |
四分割半導體式背向電子偵測器。 | |
*解 析 度: | 二次電子影像~3.5nm﹒(W.D.=5mm,25KV) |
*放大 倍率: | 20~ 300,000。 |
*加速 電壓: |
0.5~30KV |
*燈 絲: | 鎢絲 |
*燈絲 調整: | 自動+手動,並有長壽命、標準、高解析三種模式。 |
*Gun alignment準位顯示,記憶功能。 | |
*全自動操作: | Auto Brightness and contrast. |
Autofocus | |
Autostigmation and focus | |
Auto gun alignment | |
Auto Filament saturation | |
Auto start | |
Full Automated operation | |
燈絲電流有長壽命、標準及高解析模式自動調整。 | |
二次電子偵測器有高解析、標準及TOPO模式。 | |
*Scan mode : | 全功能掃瞄模式,波形顯示。 |
*數位影像儲存解析度Frame memory: | |
1,280 960 Pixel 640 480 Pixel TIFF or BMP format | |
*(Eucentric)樣品台移動範圍: | |
X:80mm Y:40mm Z:5~48mm R:360o T:-10o~+90o | |
*有電子束影像旋轉,動態聚焦功能(0-80度)及傾斜補正。 | |
*電腦 規格: | Pentium III CPU。128 MB SCSI RAM, SCSI HD, CD ROM, |
SCSI interface, 1.44 MB FD, Monitor 19"平面直角(或更佳) | |
10/100 M網路卡 | |
*真空 系統: | 氣動閥式全自動真空系統。 並可顯示真空讀值。 |
*三菱CP770DW彩色影像列表機。 | |
*High-Speed External Controlled Beam Blanking: | |
Td(ON)及Td(OFF)~500ns 含外部控制界面 | |
*數位電子束控制界面 | |
*鍍金機---含抽氣系統 | |
二、EDS微區元素能量分析儀規格 | |||
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UHV Dewar+Edwin(含數位式影響處理) |
1﹒偵測器 (Detector) | ||
1.1 解析度 (Resolution):138eV以上﹒ | ||
1.2 元素偵測範圍:B5~U92﹒ | ||
1.3 LN2(液態氮)冷卻式,可以thermally cycled﹒ | ||
2﹒電腦系統 (Computer System) | ||
IBM Computer PIII PC, 128MB RAM, SCSI hard disk, CD ROM | ||
Ethernet card (10/100 M),19"平面直角顯示器 | ||
Windows NT 或Microsoft Windows OS | ||
3﹒分析系統 (Analysis System) | ||
Full 32bit application program | ||
Qualitative Analysis 定性分析 | ||
Quantitative Analysis 定量分析 | ||
Multipoint Analysis 自動多點及多面自動搜尋分析 | ||
Linear distance measurement 長度測量功能 | ||
Image segmentation with area percent measurement 影像區段含面積百分比計算功能 | ||
Spectral position auto calibration 頻譜自動校正功能 |