掃瞄式電子顯微鏡(SEM) EDS微區元素能量分析儀
 
一、掃瞄式電子顯微鏡(SEM)規格
   
  TOPCON SM350
   
*本    體: 可變真空掃瞄式電子顯微鏡。(真空值:1270Pa可調整)
*偵 測 器: 二次電子偵測器。
  四分割半導體式背向電子偵測器。
*解 析 度: 二次電子影像~3.5nm﹒(W.D.=5mm25KV
*放大 倍率: 20300,000
*加速 電壓:

0.530KV

*燈    絲: 鎢絲
*燈絲 調整: 自動+手動,並有長壽命、標準、高解析三種模式。
*Gun alignment準位顯示,記憶功能。
*全自動操作: Auto Brightness and contrast.
  Autofocus
  Autostigmation and focus
  Auto gun alignment
  Auto Filament saturation
  Auto start
  Full Automated operation
  燈絲電流有長壽命、標準及高解析模式自動調整。
  二次電子偵測器有高解析、標準及TOPO模式。
   
*Scan mode : 全功能掃瞄模式,波形顯示。
*數位影像儲存解析度Frame memory
1,280 960 Pixel 640 480 Pixel TIFF or BMP format
*Eucentric)樣品台移動範圍:
  X80mm Y40mm Z5~48mm R:360o T-10o~+90o
*有電子束影像旋轉,動態聚焦功能(0-80)及傾斜補正。
*電腦 規格: Pentium III CPU128 MB SCSI RAM, SCSI HD, CD ROM,
  SCSI interface, 1.44 MB FD, Monitor 19"平面直角(或更佳)
  10/100 M網路卡
*真空 系統: 氣動閥式全自動真空系統。 並可顯示真空讀值。
*三菱CP770DW彩色影像列表機。
*High-Speed External Controlled Beam Blanking:
  Td(ON)Td(OFF)~500ns 含外部控制界面
*數位電子束控制界面
*鍍金機---含抽氣系統
 

 
二、EDS微區元素能量分析儀規格  
   

UHV Dewar+Edwin(含數位式影響處理)
   
1﹒偵測器 (Detector)  
  1.1 解析度 (Resolution)138eV以上﹒  
  1.2 元素偵測範圍:B5~U92  
  1.3 LN2(液態氮)冷卻式,可以thermally cycled  
   
2﹒電腦系統 (Computer System)  
  IBM Computer PIII PC, 128MB RAM, SCSI hard disk, CD ROM
  Ethernet card (10/100 M),19"平面直角顯示器  
  Windows NT Microsoft Windows OS  
     
3﹒分析系統 (Analysis System)  
  Full 32bit application program  
  Qualitative Analysis 定性分析  
  Quantitative Analysis 定量分析  
  Multipoint Analysis 自動多點及多面自動搜尋分析  
  Linear distance measurement 長度測量功能  
  Image segmentation with area percent measurement 影像區段含面積百分比計算功能
  Spectral position auto calibration 頻譜自動校正功能